การวิเคราะห์ดิฟเฟรกชันของรังสีเอกซ์
(X-ray Diffraction Analysis)
นิยาม
การวิเคราะห์ดิฟเฟรกชันของรังสีเอกซ์ (X-ray Diffraction Analysis) Hard Skill
การวิเคราะห์ดิฟเฟรกชันของรังสีเอกซ์เป็นเทคนิคที่ใช้ในการศึกษาโครงสร้างอะตอมและโมเลกุลของผลึกโดยการวัดรูปแบบที่เกิดขึ้นเมื่อรังสีเอกซ์เลี้ยวเบนผ่านวัสดุ
ระดับความเชี่ยวชาญ
ระดับที่ 1
ระดับพื้นฐาน
1. เข้าใจหลักการพื้นฐานของการวิเคราะห์ดิฟเฟรกชันของรังสีเอกซ์
2. สามารถเตรียมตัวอย่างสำหรับการวิเคราะห์ดิฟเฟรกชันของรังสีเอกซ์ได้
3. คุ้นเคยกับการติดตั้งอุปกรณ์และขั้นตอนความปลอดภัย
ระดับที่ 2
ระดับปานกลาง
1. สามารถใช้งานเครื่องมือวิเคราะห์ดิฟเฟรกชันของรังสีเอกซ์เพื่อให้ได้รูปแบบดิฟเฟรกชัน
2. วิเคราะห์ข้อมูลดิฟเฟรกชันเพื่อระบุเฟสและโครงสร้างผลึก
3. สามารถแก้ไขปัญหาทั่วไปที่เกิดขึ้นระหว่างการวิเคราะห์ได้
ระดับที่ 3
ระดับสูง
1. ตีความรูปแบบดิฟเฟรกชันที่ซับซ้อนเพื่อกำหนดโครงสร้างอย่างละเอียด
2. ใช้เทคนิคขั้นสูง เช่น การปรับแต่ง Rietveld
3. บูรณาการผลลัพธ์ XRD กับวิธีวิเคราะห์อื่นๆ เพื่อการวิเคราะห์วัสดุอย่างครบถ้วน
สำนักงานปลัดกระทรวงการอุดมศึกษา
วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม
Call Center 1313
328 ถ.ศรีอยุธยา แขวงทุ่งพญาไท เขตราชเทวี กรุงเทพฯ 10400 โทร. 02-610-5200 โทรสาร. 02-354-5524.
สงวนลิขสิทธิ์ © 2568 Skill Mapping.
เว็บไซต์นี้ เป็นเว็บไซต์หน่วยงานของรัฐในสังกัดสำนักงานปลัดกระทรวง กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม จัดตั้งขึ้นเพื่อมุ่งมั่น พัฒนาคุณภาพการบริหารจัดการ สป.อว. เพื่อเข้าสู่มาตรฐานการบริหารจัดการภาครัฐ ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อแสวงหากำไร หากท่านพบว่ามีข้อมูลใดๆ ที่ละเมิดทรัพย์สินทาง ปัญญาปรากฏอยู่ในเว็บไซต์ของสำนักงานปลัดกระทรวง โปรดแจ้งให้ทราบเพื่อดำเนิน การแก้ปัญหาดังกล่าวโดยเร็วที่สุดต่อไป