กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM)
(Atomic Force Microscopy (AFM))
นิยาม
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) (Atomic Force Microscopy (AFM)) Hard Skill
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเทคนิคการสแกนด้วยหัวตรวจที่มีความละเอียดสูง ใช้สำหรับถ่ายภาพ วัดค่า และจัดการพื้นผิวในระดับนาโนโดยตรวจจับแรงระหว่างหัวตรวจที่แหลมคมกับผิวตัวอย่าง
ระดับความเชี่ยวชาญ
ระดับที่ 1
ระดับพื้นฐาน
1. เข้าใจหลักการพื้นฐานและส่วนประกอบของ AFM
2. สามารถใช้งานเครื่อง AFM ได้ภายใต้การดูแล
3. สามารถเตรียมพื้นผิวตัวอย่างอย่างง่ายสำหรับการถ่ายภาพด้วย AFM
ระดับที่ 2
ระดับปานกลาง
1. สามารถใช้งาน AFM ได้อย่างอิสระเพื่อถ่ายภาพคุณภาพสูง
2. สามารถปรับแต่งพารามิเตอร์การถ่ายภาพให้เหมาะสมกับตัวอย่างประเภทต่างๆ
3. เข้าใจสัญญาณรบกวนที่พบบ่อยและสามารถแก้ไขปัญหาในการใช้งาน AFM ได้
ระดับที่ 3
ระดับสูง
1. สามารถทำงานในโหมดขั้นสูงของ AFM เช่น การวัดสเปกโตรสโคปีแรงหรือการวัดไฟฟ้า
2. สามารถออกแบบการทดลองที่เกี่ยวข้องกับ AFM สำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวที่ซับซ้อน
3. ตีความและวิเคราะห์ข้อมูล AFM เพื่อให้ข้อมูลพื้นผิวในระดับนาโนอย่างละเอียด
