กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
(Scanning Electron Microscopy (SEM))
นิยาม
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (Scanning Electron Microscopy (SEM)) Hard Skill
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) เป็นเทคนิคการถ่ายภาพที่มีประสิทธิภาพ โดยใช้ลำแสงอิเล็กตรอนแบบจุดโฟกัสเพื่อสร้างภาพสามมิติที่มีความละเอียดสูงของพื้นผิวตัวอย่าง เพื่อการวิเคราะห์อย่างละเอียด
ระดับความเชี่ยวชาญ
ระดับที่ 1
ระดับพื้นฐาน
1. เข้าใจหลักการพื้นฐานของการทำงานของ SEM
2. สามารถเตรียมตัวอย่างง่ายๆ สำหรับการวิเคราะห์ SEM ได้ภายใต้คำแนะนำ
3. สามารถใช้งาน SEM ภายใต้การดูแลเพื่อเก็บภาพ
ระดับที่ 2
ระดับปานกลาง
1. สามารถเตรียมและติดตั้งตัวอย่างได้อย่างเหมาะสมโดยอิสระ
2. สามารถปรับพารามิเตอร์ของ SEM (เช่น กำลังขยาย โฟกัส และแรงดันไฟฟ้า) เพื่อเพิ่มคุณภาพของภาพ
3. เข้าใจและใช้เทคนิคการวิเคราะห์ภาพพื้นฐานสำหรับการลักษณะพื้นผิว
ระดับที่ 3
ระดับสูง
1. เชี่ยวชาญเทคนิคการเตรียมตัวอย่างที่ซับซ้อน รวมถึงการเคลือบและการตัดแบบขวาง
2. สามารถปรับตั้งค่า SEM เพื่อการใช้งานขั้นสูง เช่น การวิเคราะห์ธาตุหรือการถ่ายภาพสามมิติ
3. สามารถแก้ไขปัญหาฮาร์ดแวร์และซอฟต์แวร์ของ SEM ได้ และฝึกอบรมผู้อื่น
