กล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ
(Scanning Probe Microscopy)
นิยาม
กล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ (Scanning Probe Microscopy) Hard Skill
เทคนิคที่ใช้โพรบทางกายภาพสแกนพื้นผิวของตัวอย่างในระดับละเอียดสูง เพื่อให้ข้อมูลรายละเอียดเกี่ยวกับสภาพภูมิประเทศและคุณสมบัติในระดับนาโน
ระดับความเชี่ยวชาญ
ระดับที่ 1
ระดับพื้นฐาน
1. เข้าใจหลักการและส่วนประกอบพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ
2. สามารถใช้งานกล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบภายใต้การดูแล
3. สามารถเตรียมตัวอย่างง่ายๆ สำหรับการสแกนภาพได้
ระดับที่ 2
ระดับปานกลาง
1. สามารถใช้งานกล้องจุลทรรศน์ได้อย่างอิสระและปรับแต่งพารามิเตอร์การถ่ายภาพให้เหมาะสม
2. สามารถวิเคราะห์คุณสมบัติพื้นผิวและแปลผลข้อมูลจากกล้องจุลทรรศน์
3. สามารถเตรียมตัวอย่างที่ซับซ้อนและดูแลรักษาอุปกรณ์ตามปกติได้
ระดับที่ 3
ระดับสูง
1. ออกแบบและดำเนินการทดลองขั้นสูงโดยใช้เทคนิคกล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ
2. พัฒนาเทคนิคหรือต่อยอดเพื่อเพิ่มความแม่นยำในการถ่ายภาพหรือการวิเคราะห์
3. แปลผลข้อมูลซับซ้อนเพื่อสนับสนุนงานวิจัยและนวัตกรรมในเทคโนโลยีนาโน
สำนักงานปลัดกระทรวงการอุดมศึกษา
วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม
Call Center 1313
328 ถ.ศรีอยุธยา แขวงทุ่งพญาไท เขตราชเทวี กรุงเทพฯ 10400 โทร. 02-610-5200 โทรสาร. 02-354-5524.
สงวนลิขสิทธิ์ © 2568 Skill Mapping.
เว็บไซต์นี้ เป็นเว็บไซต์หน่วยงานของรัฐในสังกัดสำนักงานปลัดกระทรวง กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม จัดตั้งขึ้นเพื่อมุ่งมั่น พัฒนาคุณภาพการบริหารจัดการ สป.อว. เพื่อเข้าสู่มาตรฐานการบริหารจัดการภาครัฐ ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อแสวงหากำไร หากท่านพบว่ามีข้อมูลใดๆ ที่ละเมิดทรัพย์สินทาง ปัญญาปรากฏอยู่ในเว็บไซต์ของสำนักงานปลัดกระทรวง โปรดแจ้งให้ทราบเพื่อดำเนิน การแก้ปัญหาดังกล่าวโดยเร็วที่สุดต่อไป