กล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ

(Scanning Probe Microscopy)

นิยาม

กล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ (Scanning Probe Microscopy) Hard Skill

เทคนิคที่ใช้โพรบทางกายภาพสแกนพื้นผิวของตัวอย่างในระดับละเอียดสูง เพื่อให้ข้อมูลรายละเอียดเกี่ยวกับสภาพภูมิประเทศและคุณสมบัติในระดับนาโน

ระดับความเชี่ยวชาญ

skill-level-0

ระดับที่ 1

ระดับพื้นฐาน

1. เข้าใจหลักการและส่วนประกอบพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ

2. สามารถใช้งานกล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบภายใต้การดูแล

3. สามารถเตรียมตัวอย่างง่ายๆ สำหรับการสแกนภาพได้

skill-level-1

ระดับที่ 2

ระดับปานกลาง

1. สามารถใช้งานกล้องจุลทรรศน์ได้อย่างอิสระและปรับแต่งพารามิเตอร์การถ่ายภาพให้เหมาะสม

2. สามารถวิเคราะห์คุณสมบัติพื้นผิวและแปลผลข้อมูลจากกล้องจุลทรรศน์

3. สามารถเตรียมตัวอย่างที่ซับซ้อนและดูแลรักษาอุปกรณ์ตามปกติได้

skill-level-2

ระดับที่ 3

ระดับสูง

1. ออกแบบและดำเนินการทดลองขั้นสูงโดยใช้เทคนิคกล้องจุลทรรศน์แบบสแกนโปรบ

2. พัฒนาเทคนิคหรือต่อยอดเพื่อเพิ่มความแม่นยำในการถ่ายภาพหรือการวิเคราะห์

3. แปลผลข้อมูลซับซ้อนเพื่อสนับสนุนงานวิจัยและนวัตกรรมในเทคโนโลยีนาโน

logologologologo
ops-logo

สำนักงานปลัดกระทรวงการอุดมศึกษา

วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม

Call Center 1313

328 ถ.ศรีอยุธยา แขวงทุ่งพญาไท เขตราชเทวี กรุงเทพฯ 10400 โทร. 02-610-5200 โทรสาร. 02-354-5524.

สงวนลิขสิทธิ์ © 2568 Skill Mapping.

เว็บไซต์นี้ เป็นเว็บไซต์หน่วยงานของรัฐในสังกัดสำนักงานปลัดกระทรวง กระทรวงการอุดมศึกษา วิทยาศาสตร์ วิจัยและนวัตกรรม จัดตั้งขึ้นเพื่อมุ่งมั่น พัฒนาคุณภาพการบริหารจัดการ สป.อว. เพื่อเข้าสู่มาตรฐานการบริหารจัดการภาครัฐ ไม่ได้มีวัตถุประสงค์เพื่อแสวงหากำไร หากท่านพบว่ามีข้อมูลใดๆ ที่ละเมิดทรัพย์สินทาง ปัญญาปรากฏอยู่ในเว็บไซต์ของสำนักงานปลัดกระทรวง โปรดแจ้งให้ทราบเพื่อดำเนิน การแก้ปัญหาดังกล่าวโดยเร็วที่สุดต่อไป